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我們從商用OCT系統中獲取目標規格。 軸向分辨率完全來自光源特性，應在5μm的數量級上。 來自樣品處光束半徑的橫向分辨率應為15μm。800 nm範圍內的光將用於避免組織中的高吸收，這會限制穿透。光源規格OCT將干涉測量技術與寬帶近紅外光結合使用。 較寬的帶寬可提供最佳分辨率，而波長選擇可確定樣品材料中的穿透深度。

而EDEM與Fluent需要通過UDF耦合，并且有版本限制，配置較為繁瑣。關鍵是這個耦合UDF的更新并不是Ansys的人員執行的，而是Altair的工程師，而且更新得并不勤。當然EDEM和HyperWorksCFD算一對CP，但是我個人非常不愛用HyperWorksCFD，覺得它的內包面功能比較差。